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Hellma氟化钙晶体:赋能光学领域

更新时间:2026-04-01      浏览次数:37

Hellma发布氟化钙(CaF₂)晶体材料

近期我司推出了Hellma发布氟化钙(CaF₂)晶体材料产品

作为精密光学元件领域的专业企业,Hellma深耕光学材料研发与制备多年,其氟化钙(CaF₂)晶体材料,凭借独特的物理化学特性,已成为光学检测、激光技术及红外成像等领域的关键基础材料,为相关行业技术升级提供了有力支撑。

Hellma氟化钙晶体:赋能光学领域

与常规光学玻璃相比,Hellma氟化钙晶体采用高纯度原料,通过单晶生长工艺精心制备而成,其核心优势在于具备从深紫外至中红外波段的无吸收窗口特性,打破了传统光学材料在光谱应用中的局限,可适配更多光学场景的使用需求。
以下为Hellma氟化钙晶体的核心物化特性及相关指标:
核心物化特性
Hellma氟化钙晶体指标
透射光谱范围
0.13μm(深紫外)- 9μm(中红外)
折射率温度系数
~10⁻⁶/°C(近红外波段低至5×10⁻⁷/°C)
密度
3.18 g/cm³
热膨胀系数
18.8×10⁻⁶/°C(20-200°C)
硬度(莫氏)
4级(兼顾加工性与耐磨性)

极低的折射率温度系数是Hellma氟化钙晶体的突出优势,这一特性使其在高低温交变的工业检测环境中,仍能稳定保持优良的光学性能,有效规避了因温度漂移引发的检测偏差,保障了检测结果的准确性。同时,该晶体折射特性,在偏振光检测系统中可消除光程差干扰,能够很好地适配高精度光谱分析等场景。

Hellma氟化钙晶体:赋能光学领域

在实际应用中,Hellma氟化钙晶体展现出广泛的适配性与显著的技术价值。在半导体晶圆检测领域,由其制成的窗口片可透过深紫外波段检测光,助力实现晶圆表面纳米级缺陷的精准识别,为半导体产业高质量发展提供支持;在红外气体分析设备中,其宽广的红外透射范围可覆盖多种气体的特征吸收峰,有助于提升多组分气体同时检测的效率,适配环保、化工等领域的检测需求。


为进一步提升产品性能,Hellma持续优化晶体生长的温场控制工艺,将晶体内部应力控制在5MPa以下,不仅大幅降低了晶体在高精度加工过程中的碎裂概率,还延长了光学元件的使用周期,为光学设备的稳定运行提供了可靠的材料保障。
北京汉达森机械技术有限公司作为Hellma的合作伙伴,专注于提供原厂原装的氟化钙晶体及相关光学元件,依托稳定的供应链体系和专业的技术支持能力,为国内半导体、红外检测、激光设备等领域的用户,提供材料选型、定制及售后配套等一站式服务。





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